このデザインは、AMD Versal™ デバイスで JTAG または HSDP を使用して DFX デザインをデバッグする方法を示しています。次のデバッグ シナリオについて説明します。
- スタティック領域のデバッグ ハブと ILA
- リコンフィギャラブル モジュール (rp1rm1) のデバッグ ハブおよび ILA
- リコンフィギャラブル モジュール (rp1rm2) のデバッグ ハブおよび VIO
- リコンフィギャラブル モジュール (rp1rm3) のデバッグ ハブと 2 つの ILA で、コア (この場合は ILA) をデバッグ ハブに自動接続
- Inter NoC Interconnect (NoC INI) を使用した RM 内のデバッグ ハブ用スタティックと RM 間のインターフェイス
- CIPS の HSDP のイネーブル (特に VCK190 の場合)
- ハードウェア マネージャーを使用して ILA で生成された波形を確認
また、このデザインを使用して、IP インテグレーター プロジェクト モードの抽象化シェル機能も紹介します。標準 DFX と抽象化シェルの両方のデザイン run を作成し、2 つの方法を比較します。次の機能について説明します。
- DFX ウィザードを使用して、両方のタイプのデザイン run を作成します。
- 親 run をコンパイルした後、子 run を並列でコンパイルします。
- 結果の run を検証して、2 つの方法を比較します。
どちらのソリューションも、デザイン チェックポイントの完全なコレクションと必要なパーシャル PDI を生成しますが、後者の方がより迅速に結果を出すことができます。