FTCECLK
|
トレース クロック周波数 (MIO) |
– |
200 |
– |
200 |
– |
200 |
– |
200 |
– |
200 |
– |
167
2
|
MHz |
トレース クロック周波数 (EMIO) |
– |
400 |
– |
400 |
– |
350 |
– |
350 |
– |
300 |
– |
250
3
|
MHz |
FDBGTCECLK
|
トレース デバッグ (DBG_TRACE) クロック周波数 |
– |
400 |
– |
400 |
– |
400 |
– |
400 |
– |
400 |
– |
333
4
|
MHz |
TTCECKO
|
トレース clock-to-output 遅延、全出力 |
-0.5 |
0.5 |
-0.5 |
0.5 |
-0.5 |
0.5 |
-0.5 |
0.5 |
-0.5 |
0.5 |
-0.5 |
0.5 |
ns |
TTCECKO
|
トレース クロックのデューティ サイクル |
45 |
55 |
45 |
55 |
45 |
55 |
45 |
55 |
45 |
55 |
45 |
55 |
% |
- LVCMOS 3.3V I/O 規格、12 mA 駆動電流、Fast スルー レート、15 pF 負荷をテスト条件としています。
- -1LLI および -1LSI 低電力デバイスは、VCC_PSLP = 0.88V または VCC_PMC = 0.88V の場合に最大トレース クロック周波数 (MIO) が 200 MHz となるオーバードライブ電圧をサポートします。
- -1LLI および -1LSI 低電力デバイスは、VCC_PSFP = 0.88V の場合に最大トレース クロック周波数 (EMIO) が 280 MHz となるオーバードライブ電圧をサポートします。
- -1LLI および -1LSI 低電力デバイスは、VCC_PSFP = 0.88V の場合に最大トレース デバッグ クロック周波数が 400 MHz となるオーバードライブ電圧をサポートします。
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