000035627 - 面向 Versal 的设计咨询 - JTAG TDO 退出 Shift-IR 状态时，保持时间缩短 - 在基于堆叠硅片互联 (SSI) 技术的受影响器件中，JTAG 测试数据输出 (TDO) 在从移位指令寄存器 (Shift-IR) 状态退出时缩短了保持时间。对于受影响的 JTAG Shift-IR TDO 输出周期，TDO 保持时间从预期的半个 TCK 时钟周期缩短至 TCK 时钟上升沿后的 3 ns。
在 JTAG 移位操作期间，每个 JTAG TDO 输出位值都在 TCK 下降沿之后输出，并应保持到下一个 TCK 下降沿。在基于堆叠硅片互联 (SSI) 技术的受影响器件中，仅当在移位指令寄存器 (Shift-IR) 状态下退出时，JTAG TDO 输出发生更改的时机可能早于预期。
- Release_Date
- 2023-12-13
- Revision
- 1.0 简体中文