000035627 - Versal のデザイン アドバイザリ - JTAG TDO により Shift-IR ステート終了時のホールド タイムが短縮 - スタックド シリコン インターコネクト (SSI) テクノロジを採用した一部のデバイスでは、JTAG テスト データ出力 (TDO) がシフト命令レジスタ (Shift-IR) ステートを抜ける際に、ホールド時間が短縮されます。対象となる JTAG の Shift-IR TDO 出力サイクルでは、TDO ホールド時間が短くなり、TCK クロックの立ち上がりエッジ後、従来は TCK の半周期だったものが 3 ns に短縮されます。 JTAG のシフト動作中、TCK の立ち下がりエッジ後に各 JTAG TDO 出力ビット値が出力され、次の TCK の立ち下がりエッジまでその値が保持される決まりになっています。 スタックド シリコン インターコネクト (SSI) テクノロジを採用した対象デバイスでは、シフト命令レジスタ (Shift-IR) ステートを抜けるタイミングに限り、JTAG の TDO 出力が本来よりも早く変化してしまう可能性があります。

Release Date

2023-12-13

Revision

1.0 日本語